## Контекст Single-Pixel Imaging (SPI) представляет собой инновационную технологию, позволяющую восстанавливать изображения с помощью только одного пиксельного детектора. Эта технология основывается на последовательном освещении объекта структурированной световой паттерной, а затем анализе сгенерированных сигналов с помощью одного детектора. Однако существуют значительные сложности в оптимизации структурированных паттернов для конкретных задач, таких как микроскопия с помощью SPI. Наличие задач, требующих высокой точности и скорости, делает необходимыми более эффективные методы для проектирования паттернов. В данной работе рассматривается применение билевел-оптимизации для создания задач-специфических, бинарных паттернов, оптимизированных для решения таких задач, как микроскопия с помощью SPI. ## Метод Для решения проблемы оптимизации бинарных паттернов был применен метод билевел-оптимизации. Этот подход разделяет задачу на две уровневые оптимизации: верхний уровень оптимизирует качество восстановления изображения, а нижний уровень оптимизирует бинарные паттерны. Для устранения непроизводящихся свойств бинарных паттернов использован Straight-Through Estimator (STE), позволяющий вычислять производные через непрерывные приближения. Кроме того, в формулировке билевел-метода был включен регуляризатор Total Deep Variation, чтобы обеспечить гладкость и регулярность решения. Эта архитектура позволяет эффективно решать задачи, где паттерны должны быть оптимизированы для конкретных задач, таких как микроскопия с помощью SPI. ## Результаты Метод был проверен на датасете CytoImageNet, который содержит микроскопические изображения. Оптимизированные бинарные паттерны были сравнены с базовыми методами проектирования паттернов. Эксперименты показали, что паттерны, полученные с помощью предложенного подхода, обеспечивают значительное улучшение точности восстановления изображений, особенно при высоком уровне уменьшения выборки. Это демонстрирует эффективность метода в решении задач SPI в режимах низкого объема данных. ## Значимость Предложенный подход имеет широкое применение в сфере микроскопии и других областях, где требуется высокая точность восстановления изображений с помощью SPI. Метод позволяет эффективно использовать ограниченные ресурсы для получения более качественных результатов. Он также открывает пути для дальнейшего исследования оптимизации паттернов в SPI, включая применение для различных типов микроскопов и задач, требующих высокой скорости и точности. ## Выводы Результаты показывают, что предложенный метод билевел-оптимизации эффективно ре