#### Контекст Современные электронные системы, особенно те, которые используются в критически важных приложениях, чувствительны к мелким аварийным сбоям, которые могут привести к серьезным последствиям. Одна из таких проблем — **silent data corruption (SDE)**, которая возникает из-за временных дефектов или старения компонентов. Эти ошибки часто остаются незамеченными во время функциональных тестов, но могут привести к дефектам в последствии. Традиционные методы, такие как функциональное тестирование, требуют огромных ресурсов и являются дорогостоящими. Необходима эффективная, точная и автоматизированная система для прогнозирования и оценки риска SDE. #### Метод Мы предлагаем **способ определения риска SDE с использованием развитых графовых нейронных сетей (Graph Neural Networks, GNN)**. Наш подход, называемый **Spatio-Temporal Graph Convolutional Network (ST-GCN)**, отличается своей возможностью обрабатывать временные серии данных, связанные с электрическими схемами. Мы представляем схемы в виде **специальных графов**, где узлы представляют собой компоненты, а ребра — связи между ними. Используя **специальные модули для пространственной и временной обработки**, мы можем предсказывать **показатели вероятности повреждения** (Fault Impact Probabilities, FIPs) на разных циклах. Метод также поддерживает интеграцию с данными о тестировании, что позволяет улучшить точность и эффективность. #### Результаты Мы проверили наше решение на **ISAСS-89** — широко известной тестовой базе данных для группы электронных схем. Наши результаты показывают, что **ST-GCN** уменьшает время вычислений на **10 раз** по сравнению с традиционными методами, при этом сохраняя высокую точность. Мы также проверили, как **выбор тестовых точек**, определяемых с помощью FIPs, повышает обнаружение сложных, длительных ошибок. Это демонстрирует высокую эффективность нашего подхода в распределенных системах. #### Значимость Предлагаемый подход имеет большое значение для **тестирования и оптимизации электронных систем** в области электроники. Он может быть применен для **предсказания SDE** в различных системах, особенно тех, которые требуют высокой надежности (например, авиационной и медицинской отраслях). **Преимущество** нашего метода — быстрота, точность и эффективность в предсказании длительных ошибок, что минимизирует требования к ресурсам. Мы также рассмотрели возможность использования нашего подхода в **тест-стратегиях** и **электронном проектировании**. #### Выводы Наша работа доказывает, что использование **графовых нейронных сетей** для обработки специальных **спектров SDE** в элект

## Контекст Оптимизация логики является ключевым этапом в электронном проектировании автоматизации (ELA). Цель оптимизации — сократить количество элементов управления (гейтс) в логических схемах без ущерба для их функциональности. Одним из основных операторов оптимизации является refactor. Он стремится к уменьшению количества элементов, но обычно при этом происходит много неудачных попыток. Эти неудачи требуют дорогостоящей ресинтезы, что значительно замедляет процесс оптимизации. Эта проблема особенно актуальна для крупных индустриальных проектов, где эффективность оптимизации критична. Наша работа адресована решению этой проблемы, способствуя значительному ускорению оптимизации логики. ## Метод Мы предлагаем метод, основанный на классификаторе, который предсказывает результат операции refactor еще до её выполнения. Если предсказание указывает на неудачу, операция пропускается, избегая ненужных ресинтезов. Мы использовали алгоритм глубокого обучения для построения классификатора, который на основе характеристик логических узлов предсказывает результат. Этот подход позволяет эффективно использовать вычислительные ресурсы, сократив количество ненужных операций. Метод был интегрирован в систему ABC, популярную в ELA. ## Результаты Мы проверили наш метод на двух наборах данных: EPFL benchmark suite и 10 крупных промышленных проектах. На этих наборах мы сравнили скорость работы нашего метода с самой быстрой доступной реализацией refactor в ABC. Результаты показали, что наш метод ускоряет оптимизацию логики в среднем в 3.9 раз. Это достигнуто благодаря преемственному отсеиванию неудачных операций, что экономит ресурсы и ускоряет процесс. ## Значимость Наш метод имеет широкие потенциальные применения в электронном проектировании, где требуется оптимизация логических схем. Он эффективен для крупных проектов, где высокая скорость работы и экономия ресурсов критична. Это может привести к ускорению разработки и сокращению затрат на производство. Метод также может быть использован в других областях, где требуется эффективная оптимизация сложной логики. ## Выводы Мы представили новый подход к эффективной оптимизации логики, основанный на алгоритмах машинного обучения. Наши результаты показывают, что этот подход может значительно ускорить процесс оптимизации, уменьшив количество ненужных операций. Будущие исследования будут направлены на усовершенствование классификатора и расширение его применения к другим операторам оптимизации.