#### Контекст Современные электронные системы, особенно те, которые используются в критически важных приложениях, чувствительны к мелким аварийным сбоям, которые могут привести к серьезным последствиям. Одна из таких проблем — **silent data corruption (SDE)**, которая возникает из-за временных дефектов или старения компонентов. Эти ошибки часто остаются незамеченными во время функциональных тестов, но могут привести к дефектам в последствии. Традиционные методы, такие как функциональное тестирование, требуют огромных ресурсов и являются дорогостоящими. Необходима эффективная, точная и автоматизированная система для прогнозирования и оценки риска SDE. #### Метод Мы предлагаем **способ определения риска SDE с использованием развитых графовых нейронных сетей (Graph Neural Networks, GNN)**. Наш подход, называемый **Spatio-Temporal Graph Convolutional Network (ST-GCN)**, отличается своей возможностью обрабатывать временные серии данных, связанные с электрическими схемами. Мы представляем схемы в виде **специальных графов**, где узлы представляют собой компоненты, а ребра — связи между ними. Используя **специальные модули для пространственной и временной обработки**, мы можем предсказывать **показатели вероятности повреждения** (Fault Impact Probabilities, FIPs) на разных циклах. Метод также поддерживает интеграцию с данными о тестировании, что позволяет улучшить точность и эффективность. #### Результаты Мы проверили наше решение на **ISAСS-89** — широко известной тестовой базе данных для группы электронных схем. Наши результаты показывают, что **ST-GCN** уменьшает время вычислений на **10 раз** по сравнению с традиционными методами, при этом сохраняя высокую точность. Мы также проверили, как **выбор тестовых точек**, определяемых с помощью FIPs, повышает обнаружение сложных, длительных ошибок. Это демонстрирует высокую эффективность нашего подхода в распределенных системах. #### Значимость Предлагаемый подход имеет большое значение для **тестирования и оптимизации электронных систем** в области электроники. Он может быть применен для **предсказания SDE** в различных системах, особенно тех, которые требуют высокой надежности (например, авиационной и медицинской отраслях). **Преимущество** нашего метода — быстрота, точность и эффективность в предсказании длительных ошибок, что минимизирует требования к ресурсам. Мы также рассмотрели возможность использования нашего подхода в **тест-стратегиях** и **электронном проектировании**. #### Выводы Наша работа доказывает, что использование **графовых нейронных сетей** для обработки специальных **спектров SDE** в элект