High-Dimensional Statistical Process Control via Manifold Fitting and Learning
2509.19820v1
stat.ML, cs.LG, stat.AP
2025-09-26
Авторы:
Burak I. Tas, Enrique del Castillo
Резюме на русском
## Контекст
В Statistical Process Control (SPC) существуют сложности при мониторинге высокомерных динамических процессов, которые неявно лежат на низкомерной многообразии. Традиционные методы SPC, ориентированные на линейную редукцию размерности, часто не эффективны в высокомерных случаях. Это связано с тем, что низкое размерностное упрощение может привести к потере информации. Необходимо развитие моделей, которые эффективно работали бы с высокомерными данными, учитывая их низкомерную природу.
## Метод
Для решения этой проблемы предлагается два подхода:
1. **Мониторинг на основе многообразия (manifold fitting)**: Данные аппроксимируются нелинейной структурой в высокомерном пространстве, а затем отслеживается отклонение от этого максимума. Это достигается с помощью нового скалярного, распределения-свободного, контрольного листа.
2. **Мониторинг на основе низкого размерного пространства (manifold learning)**: Данные эмбеддируются в низкомерное пространство, после чего отслеживаются отклонения в этом пространстве. Это подход близок к традиционным SPC-методам.
Каждый метод доказывает свою возможность контролируемых тип-I ошибок, а затем сравнивается по природе и эффективности мониторинга.
## Результаты
Эксперименты проводились на синтетических и реальных данных, включая процесс Tennessee Eastman. Метод мониторинга на основе многообразия показал высокую эффективность в мониторинге и детектировании аномалий, даже лучше tradition-based manifold learning. Для реальных данных, например, изображений электрических комутаторов, показано, что этот подход способен успешно обнаруживать поверхностные дефекты.
## Значимость
Найденные результаты имеют широкое применение в промышленности, особенно в SPC, где необходимо анализ высокомерных динамических данных. Многообразие-фиттинг значительно улучшает мониторинг, повышая скорость и точность, и доказывает эффективность в реальных условиях.
## Выводы
Предложенные методы мониторинга SPC, основанные на многообразии, демонстрируют высокую эффективность в динамических высокомерных процессах. Модель мониторинга на основе многообразия-фиттинга показывает более высокую точность и скорость в детектировании аномалий по сравнению с традиционными подходами. Будущие исследования будут фокусироваться на расширении этого подхода для более сложных промышленных процессов и на более глубоком исследовании интеграции многообразия-фиттинга в SPC.
Abstract
We address the Statistical Process Control (SPC) of high-dimensional, dynamic
industrial processes from two complementary perspectives: manifold fitting and
manifold learning, both of which assume data lies on an underlying nonlinear,
lower dimensional space. We propose two distinct monitoring frameworks for
online or 'phase II' Statistical Process Control (SPC). The first method
leverages state-of-the-art techniques in manifold fitting to accurately
approximate the manifold where the data resides within the ambient
high-dimensional space. It then monitors deviations from this manifold using a
novel scalar distribution-free control chart. In contrast, the second method
adopts a more traditional approach, akin to those used in linear dimensionality
reduction SPC techniques, by first embedding the data into a lower-dimensional
space before monitoring the embedded observations. We prove how both methods
provide a controllable Type I error probability, after which they are
contrasted for their corresponding fault detection ability. Extensive numerical
experiments on a synthetic process and on a replicated Tennessee Eastman
Process show that the conceptually simpler manifold-fitting approach achieves
performance competitive with, and sometimes superior to, the more classical
lower-dimensional manifold monitoring methods. In addition, we demonstrate the
practical applicability of the proposed manifold-fitting approach by
successfully detecting surface anomalies in a real image dataset of electrical
commutators.